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賽多利斯分析天平

高精度實驗室天平是科學研究領域中精確測量質(zhì)量的必備工具。這些天平通常設計有封閉的稱量盤,以防止灰塵和氣流的影響,確保測量的準確性。了解分析天平的使用方法,歡迎聯(lián)系我們。

分析天平是實驗室中使用最廣泛的天平。它們的最大稱量范圍在 60 g 至 520 g 之間,可讀性為 0.1 mg,常用于稱量小樣本。有時,可讀性為 0.01 mg 或 10 μg 的實驗室天平也被稱為分析天平。為滿足您特定應用的需求,還提供專門設計的稱量盤、樣品支架和軟件應用程序,以簡化您的稱量過程和實驗室工作流程。

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Product image - Cubis II Lab Balance 90mm MCA 225S

Cubis? II 半微量天平

Cubis? II 半微量天平有時會被誤認為是分析天平。它們的可讀性為 0.01 mg,最大稱量量可達 220 g。

Cubis? II 分析天平

Cubis? II 分析天平具備高性能精度、可定制的模塊化設計以及先進的特性,能確保實驗室稱量的準確性和效率。

Application image in lab: Dosing using Quintix Pro Lab Balance - close, gloved hand

Quintix? Pro 分析天平

Quintix? Pro 分析天平為高效的實驗室稱量任務提供可靠的精度、直觀的操作以及用戶友好的特性。

Entris II in use

Entris? II 分析天平

Entris? II 分析天平操作簡便,具備實用功能且價格實惠,能為日常實驗室工作提供準確可靠的稱量結(jié)果。

常見問題解答

實驗室分析天平的常見問題

分析天平是靈敏的實驗室儀器,用于準確測量質(zhì)量。其可讀性為0.1 mg。有時也包括可讀性為0.01 mg的半微量天平。通常,分析天平均配備防風罩,以防止稱重過程受氣流影響。

您應該監(jiān)控分析天平性能并對其進行定期校準。您可以使用自動內(nèi)部校準 (isoCAL) 功能,此外,建議您使用外部經(jīng)認證砝碼校準天平。外部校準的頻率取決于多種因素,例如:

  • 使用頻率:如果天平的使用頻率是每天而非每周,應更頻繁地校準天平。每天使用的天平應每天校準一次。
  • 環(huán)境條件改變:如果天平所處的環(huán)境條件發(fā)生變化,或者稱的放置位置靠近振動源、AC 系統(tǒng)、窗前、門邊等,建議您經(jīng)常校準天平。
  • 稱重結(jié)果準確度的重要性:?
  • 制造商建議
  • 重新安置:在重新安置天平或稱之后,必須進行校準。這是因為,地球上不同位置的重力不同,所以與“地磁北極”之間的位置關系也存在差異。這將導致引力作用差異,具體取決于位置相對于海平面的海拔高度。鑒于天平的原理是測量重力將質(zhì)量拽向地心的引力,因此更換安置位置(例如,即使搬到不同的樓層)之后讀數(shù)也會發(fā)生變化,這是因為引力發(fā)生了改變。

分析天平不僅具有高測量精度,且測量時間短,僅需幾秒鐘。因此,它們廣泛應用于許多實驗室的常規(guī)測量。例如,用于差重稱量程序、總計、平均和填料應用,或通常用于后續(xù)分析的樣品制備。

分析天平的可讀性為0.1 mg,而精密天平的可讀性通常為≥1 mg。因此,分析天平的可讀性至少是精密天平的10倍。?

首先確定您的稱重儀器的最小刻度,然后在以下圖表中根據(jù)需要的準確度級別選擇適當?shù)捻来a。砝碼的標稱質(zhì)量值必須在您的稱重儀器最大測量值的 80% 以上。

示例:假設您的稱重儀器的最大稱重值為 2,200 g,最小刻度為 0.01 g。此時所需解析度為 220,000,對應于 E2 級砝碼。選擇 2,000 g 作為標稱質(zhì)量值。

將天平設置為待機模式,完成必須的清潔操作,注意確認稱盤上無殘留物。在清潔后校準天平,然后再進行日常檢查。

賽多利斯的實驗室天平依照美國FDA數(shù)據(jù)完整性原則設計,該原則要求數(shù)據(jù)準確、易讀、同步、原始和可追溯(ALCOA)。

Cubis? II天平配有制藥軟件包,包含所有支持遵守共同規(guī)定的技術控件。

下載白皮書:Cubis? II醫(yī)藥合規(guī)性設計


要正確使用分析天平,必須格外小心,并確保使用環(huán)境不受干擾。分析天平對大氣的細微變化和人員走動極為敏感,因此務必在人員活動少、溫度波動小且無氣流的房間內(nèi)使用。使用防振臺能進一步確保獲得準確的稱量結(jié)果。
使用分析天平時,重要的是要確認天平符合行業(yè)標準(如美國食品藥品監(jiān)督管理局(FDA)、藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范(GMP)、藥典等相關標準),進行必要的校準,并在使用前讓天平達到工作溫度。在稱量過程中,將待稱物質(zhì)放在預先稱重并去皮的稱量紙或容器上。為避免因指紋增加重量,一定要戴手套操作,或使用鑷子、鉗子等工具。
使用完天平后,要輕輕清潔儀器,清除可能污染天平的任何樣品殘留物。這能確保分析天平在后續(xù)使用中的準確性和使用壽命。

通常,推薦使用的外部校準砝碼及其精度等級可在儀器的用戶手冊和數(shù)據(jù)手冊中找到。校準砝碼的標稱質(zhì)量應達到稱量儀器最大稱量量的 80%以上。若使用多個校準砝碼,這些砝碼的標稱質(zhì)量應覆蓋儀器的大部分稱量范圍。
對于分析天平的校準,通常建議使用標稱質(zhì)量在 100 g 至 500 g 之間的 E2 級校準砝碼。

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賽多利斯 Entris? II 實驗室天平

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分析天平服務

分析天平服務

在所有的工業(yè)細分領域?qū)嶒炇覕?shù)據(jù)合規(guī)性、可靠性和準確性的需求正在穩(wěn)步提高。我們的服務通過認證和許可,將在整個生命周期內(nèi)支持并維護您的實驗室稱重設備。我們能夠保證設備的使用壽命,縮短停機時間以限制生產(chǎn)損失,并助您以更快的速度獲得可重復的結(jié)果。

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為何使用分析天平?

分析實驗室天平是實驗室中使用最多的天平。其最大量程介于60 g至520 g之間,可讀性為0.1 mg,通常用于稱量小樣品。有時,可讀性為0.01 mg或10 μg的實驗室天平也稱為分析天平。為了滿足您的特定應用要求,我們提供專門設計的稱盤、樣品支架和軟件應用程序以簡化稱量過程和實驗室工作流程。



分析天平與精密天平的區(qū)別

分析天平比精密天平更加精確。分析天平的可讀性為0.1 mg或0.0001 g,而精密天平的可讀性通常為≥1 mg或≥0.001 g。因此,分析天平的可讀性至少是精密天平的10倍。


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